Imágenes a Escala Nanométrica:Proporciona mapas topográficos de superficies con una resolución de 0.2 nm en XY y 0.05 nm en Z alcanzando precisión atómica.
Modos de Operación Versátiles:Incluye modos de contacto y lapeado (tapping) con opciones para análisis de fase fricción (LFM) magnético (MFM) y electrostático (EFM).
Control Digital DSP:Utiliza un sistema de retroalimentación digital DSP para un control preciso del escaneo y una adquisición de datos multicanal de alta velocidad.
La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de imagen de ultra alta resolución que se utiliza para analizar las características de la superficie a escala nanométrica. El AFM es ampliamente utilizado en ciencia de materiales biología física y nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas permitiendo a los investigadores capturar mapas topográficos con una precisión atómica. Funciona mediante el escaneo de una punta afilada sobre la superficie de la muestra midiendo las fuerzas de interacción para construir una imagen tridimensional detallada.
Datos Técnicos
Característica
Valor
Modos de Trabajo
Contacto Tapping (Estándar); Fase LFM MFM EFM (Opcional)
Tamaño Máximo de Muestra
Ф≤90mm Altura≤20mm
Escáneres Disponibles
10x10μm 20x20μm 50x50μm 100x100μm
Resolución de Escaneo
XY: 0.2 nm Z: 0.05 nm
Puntos de Imagen
512 x 512
Ampliación Óptica
4X (Resolución 2.5 μm)
Control de Escaneo
D/A 18-bit (XY) D/A 16-bit (Z)
Muestreo de Datos
Doble A/D 14-bit síncrono Doble A/D 16-bit
Retroalimentación
Digital DSP
Interfaz
USB 2.0
Sistema Operativo
Windows XP/7/8/10
Peso Bruto
65 kg
Aplicaciones y Usos Clave
Ciencia de materiales: estudio de rugosidad defectos y nanoestructuras.
Biología: visualización de células proteínas y ADN en su estado nativo.
Física y nanotecnología: caracterización de películas delgadas y nano-dispositivos.
Industria de semiconductores: control de calidad de obleas y circuitos.
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