El instrumento utiliza la esfera integradora para realizar la medición de la reflectancia espectral difusa. El principio óptico consiste en utilizar la luz azul emitida por la fuente de luz semiconduc...
El instrumento utiliza la esfera integradora para realizar la medición de la reflectancia espectral difusa. El principio óptico consiste en utilizar la luz azul emitida por la fuente de luz semiconductora para ingresar directamente a la esfera integradora. El espectro reflejado por la superficie se convierte en una señal eléctrica mediante la fotocélula de silicio después de pasar a través de la lente del condensador, la barrera de luz y el grupo de filtro de color; otra fotocélula de silicio recibe la señal base en la esfera. Las dos señales eléctricas son amplificadas y procesadas respectivamente por una microcomputadora de un solo chip para realizar las funciones del sistema de calibración automática de cero, calibración de pizarra de trabajo y prueba de muestras. Los usuarios pueden utilizar fácilmente este instrumento para probar la blancura de varias muestras.
Datos Técnicos
ModeloB2-01-011089.1
Condiciones de iluminación/observación0/dCondición
Condición de observaciónFuente luminosa estándar D65
Observador estándarCampo de visión de 10°
Apertura de mediciónø 1 8 mm
Tamaño de la muestraDiámetro >φ15 mm, espesor
Modelo
B2-01-011089.1
Condiciones de iluminación/observación
0/dCondición
Condición de observación
Fuente luminosa estándar D65
Observador estándar
Campo de visión de 10°
Apertura de medición
ø 1 8 mm
Tamaño de la muestra
Diámetro >φ15 mm, espesor
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