Imágenes a Escala Nanométrica:Proporciona mapas topográficos de superficies con una resolución de 0.2 nm en XY y 0.05 nm en Z alcanzando precisión atómica.
Modos de Operación Versátiles:Incluye modos de contacto y lapeado (tapping) con opciones para análisis de fase fricción (LFM) magnético (MFM) y electrostático (EFM).
Control Digital DSP:Utiliza un sistema de retroalimentación digital DSP para un control preciso del escaneo y una adquisición de datos multicanal de alta velocidad.
La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de imagen de ultra alta resolución que se utiliza para analizar las características de la superficie a escala nanométrica. El AFM es ampliamente utilizado en ciencia de materiales biología física y nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas permitiendo a los investigadores capturar mapas topográficos con una precisión atómica. Funciona mediante el escaneo de una punta afilada sobre la superficie de la muestra midiendo las fuerzas de interacción para construir una imagen tridimensional detallada.
