La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de imágenes de alta resolución que se utiliza para analizar las características de la superficie a escala nanométrica. El AFM se utiliza ampliamente en ciencia de materiales, biología, física y nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas, lo que permite a los investigadores capturar mapas topográficos con precisión atómica.
Datos Técnicos
ModeloB2-01-010668.1
Modos de trabajoModo de contacto y modo de lapeadoModos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM)