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microscopía de fuerza atómica

microscopía de fuerza atómica

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  • La microscopía de fuerzaatómica (AFM) es una técnica de imágenes de alta resolución que se utiliza para analizar las características de la superficie a escala nanométrica.
  • El AFM se utilizaampliamente en ciencia de materiales, biología, física y nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas, lo que permite a los investigadores capturar mapas topográficos con precisión atómica.
  • Modos de trabajo optimizadoModo de contacto y modo de lapeadoModos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM)
  • Tamaño de la muestra optimizadoФ≤90mm, Alto≤20mm

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SKU: B2-01-010668

 

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Descripción General

La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de imágenes de alta resolución que se utiliza para analizar las características de la superficie a escala nanométrica. El AFM se utiliza ampliamente en ciencia de materiales, biología, física y nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas, lo que permite a los investigadores capturar mapas topográficos con precisión atómica.

Características Clave

  • Modos de trabajoModo de contacto y modo de lapeadoModos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM)
  • Tamaño de la muestraФ≤90mm, Alto≤20mm
  • Escáneres disponibles10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm
  • Resolución de escaneo0,2 nm en dirección XY, 0,05 nm en dirección Z
  • Rango de movimiento de muestra±6,5 mm

Aplicaciones y Seguridad

La microscopía de fuerza: atómica (AFM) es una técnica de imágenes de alta resolución que se utiliza para analizar las características de la superficie a escala nanométrica.

El AFM se utiliza: ampliamente en ciencia de materiales, biología, física y nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas, lo que permite a los investigadores capturar mapas topográficos con precisión atómica.

Modos de trabajo optimizado: Modo de contacto y modo de lapeadoModos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM)

Especificaciones Técnicas

ModeloB2-01-010668.1
Modos de trabajoModo de contacto y modo de lapeadoModos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM)
Tamaño de la muestraФ≤90mm, Alto≤20mm
Escáneres disponibles10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm
Resolución de escaneo0,2 nm en dirección XY, 0,05 nm en dirección Z
Rango de movimiento de muestra±6,5 mm
Ancho de pulso del motor paso a paso10±2ms
Puntos de muestreo de imágenes512*512
Ampliación óptica 4XResolución óptica 2,5 μm
Velocidad de escaneo 0,6 Hz ~ 4,34 Hz ​​Ángulo de escaneo 0°~360°
Control de escaneoD/A de 18 bits en dirección XY, D/A de 16 bits en dirección Z
Muestreo de datosMuestreo síncrono multicanal A/D doble de 14 bits, A/D doble de 16 bits
ComentariosRetroalimentación digital DSP
Tasa de muestreo de retroalimentación64kHz
Interfaz informáticaUSB2.0
Sistema operativoWindows XP/7/8/10
Suministro de energía220 V CA, 50/60 Hz; 110 V, 50/60 Hz (opcional)
Tamaño del paquete550*550*1150mm
Peso bruto65 kilos