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microscopia de fuerza atomica

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  • La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de imágenes de alta resolución que se utiliza para analizar las características de la superficie a escala nanométrica. El AFM se utiliza ampliamen...

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SKU: B2-01-010668

 

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Descripción General

La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de imágenes de alta resolución que se utiliza para analizar las características de la superficie a escala nanométrica. El AFM se utiliza ampliamente en ciencia de materiales, biología, física y nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas, lo que permite a los investigadores capturar mapas topográficos con precisión atómica.

Datos Técnicos

  • ModeloB2-01-010668.1
  • Modos de trabajoModo de contacto y modo de lapeadoModos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM)
  • Tamaño de la muestraФ≤90mm, Alto≤20mm
  • Escáneres disponibles10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm
  • Resolución de escaneo0,2 nm en dirección XY, 0,05 nm en dirección Z
  • Rango de movimiento de muestra±6,5 mm
  • Ancho de pulso del motor paso a paso10±2ms
  • Puntos de muestreo de imágenes512*512
  • Ampliación óptica 4XResolución óptica 2,5 μm
  • Velocidad de escaneo 0,6 Hz ~ 4,34 Hz ​​Ángulo de escaneo 0°~360°
  • Control de escaneoD/A de 18 bits en dirección XY, D/A de 16 bits en dirección Z
  • Muestreo de datosMuestreo síncrono multicanal A/D doble de 14 bits, A/D doble de 16 bits
  • ComentariosRetroalimentación digital DSP
  • Tasa de muestreo de retroalimentación64kHz
  • Interfaz informáticaUSB2.0
  • Sistema operativoWindows XP/7/8/10
  • Suministro de energía220 V CA, 50/60 Hz; 110 V, 50/60 Hz (opcional)
  • Tamaño del paquete550*550*1150mm
  • Peso bruto65 kilos
ModeloB2-01-010668.1
Modos de trabajoModo de contacto y modo de lapeadoModos opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM)
Tamaño de la muestraФ≤90mm, Alto≤20mm
Escáneres disponibles10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm
Resolución de escaneo0,2 nm en dirección XY, 0,05 nm en dirección Z
Rango de movimiento de muestra±6,5 mm
Ancho de pulso del motor paso a paso10±2ms
Puntos de muestreo de imágenes512*512
Ampliación óptica 4XResolución óptica 2,5 μm
Velocidad de escaneo 0,6 Hz ~ 4,34 Hz ​​Ángulo de escaneo 0°~360°
Control de escaneoD/A de 18 bits en dirección XY, D/A de 16 bits en dirección Z
Muestreo de datosMuestreo síncrono multicanal A/D doble de 14 bits, A/D doble de 16 bits
ComentariosRetroalimentación digital DSP
Tasa de muestreo de retroalimentación64kHz
Interfaz informáticaUSB2.0
Sistema operativoWindows XP/7/8/10
Suministro de energía220 V CA, 50/60 Hz; 110 V, 50/60 Hz (opcional)
Tamaño del paquete550*550*1150mm
Peso bruto65 kilos
microscopio de fluorescencia
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