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Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) - B2-01-010668

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) - B2-01-010668

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Descripción e commerce

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM). Análisis de Superficies con Resolución Atómica La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de imagen de ultra alta resolución que se utiliza para analizar las características de la superficie a escala nanométri. Codigo interno C-001529.

  • Análisis de Superficies
  • Resolución Atómica La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de imagen de ultra alta resolución que se utiliza
  • analizar las características de la superficie a escala nanométrica

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SKU: C-001529

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Análisis de Superficies con Resolución Atómica

La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica de imagen de ultra alta resolución que se utiliza para analizar las características de la superficie a escala nanométrica. El AFM es ampliamente utilizado en ciencia de materiales biología física y nanotecnología para estudiar superficies y películas delgadas permitiendo a los investigadores capturar mapas topográficos con una precisión atómica. Funciona mediante el escaneo de una punta afilada sobre la superficie de la muestra midiendo las fuerzas de interacción para construir una imagen tridimensional detallada.

Datos Técnicos

CaracterísticaEspecificación
MarcaBELLTRONIC
Modelo
B2-01-010668
Modos de TrabajoEstándar: Contacto y golpeteo (lapping). Opcionales: Fase, Fricción (LFM), Magnético (MFM), Electrostático (EFM).
Tamaño de la MuestraDiámetro ≤90mm, Altura ≤20mm.
Escáneres Disponibles10x10µm, 20x20µm, 50x50µm, 100x100µm.
Resolución de Escaneo0.2nm en dirección XY, 0.05nm en dirección Z.
Rango de Movimiento de la Muestra±6.5mm
Ancho de Pulso del Motor PaP10±2ms
Puntos de Muestreo de Imagen512 x 512
Magnificación Óptica (4X)Resolución óptica de 2.5µm.
Tasa de Escaneo0.6Hz ~ 4.34Hz; Ángulo de escaneo 0° ~ 360°.
Control de EscaneoD/A de 18 bits en dirección XY, D/A de 16 bits en dirección Z.
Muestreo de DatosA/D de 14 bits, muestreo síncrono multicanal con doble A/D de 16 bits.
Retroalimentación (Feedback)Retroalimentación digital DSP.
Tasa de Muestreo de Retroalimentación64kHz
Interfaz con la ComputadoraUSB 2.0
Sistema OperativoWindows XP/7/8/10.
Fuente de AlimentaciónAC 220V, 50/60Hz; 110V, 50/60Hz (Opcional).
Dimensiones del Paquete550 x 550 x 1150 mm.
Peso Bruto65 kg.

Aplicaciones y Usos Clave

  • Ciencia de materiales: estudio de rugosidad defectos y nanoestructuras.
  • Biología: visualización de células proteínas y ADN en su estado nativo.
  • Física y nanotecnología: caracterización de películas delgadas y nano-dispositivos.
  • Industria de semiconductores: control de calidad de obleas y circuitos.